Suchergebnisse - Doege, Jason E | OPAC THWS

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Dynamically reconfigurable precision signal delay test system for automatic test equipment von BURLISON PHILLIP D, DOEGE JASON E

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Scan based testing of an integrated circuit for compliance with timing specifications von CORLEY, LEE ALLEN, PRESSLY, MATTHEW DONALD, SHEPARD, CLARK GILSON, GILES, GRADY L, MARQUETTE, DANIEL T, CROUCH, ALFRED LARRY, MATEJA, MICHAEL ALAN, DOEGE, JASON E, AMASON, JR., ODIS DALE

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