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Recommended Test Conditions for SEB Evaluation of Planar Power DMOSFETs
von
Liu, S.
,
Titus, J.L.
,
DiCienzo, C.
,
Huy Cao
,
Zafrani, M.
,
Boden, M.
,
Berberian, R.
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IEEE transactions on nuclear science
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Analysis of Commercial Trench Power MOSFETs' Responses to ^ Irradiation
von
Liu, S.
,
DiCienzo, C.
,
Bliss, M.
,
Zafrani, M.
,
Boden, M.
,
Titus, J.L.
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Analysis of Commercial Trench Power MOSFETsa Responses to{rm Co}{60}$ Irradiation
von
Liu, S
,
DiCienzo, C
,
Bliss, M
,
Zafrani, M
,
Boden, M
,
Titus, J L
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IEEE transactions on nuclear science
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4
Analysis of Commercial Trench Power MOSFETs' Responses to rm Co 60 Irradiation
von
Liu, S
,
DiCienzo, C
,
Bliss, M
,
Zafrani, M
,
Boden, M
,
Titus, J L
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