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Suchergebnisse - Devanciard, Nicolas
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SYSTEM FOR CONDITIONING A PLURALITY OF SUPERIMPOSED SUB-STACKS OF SOLID OXIDE CELLS OF THE HIGH-TEMPERATURE SOEC/SOFC TYPE
von
DEVANCIARD, Nicolas
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System til konditionering af en flerhed af stablede understabler af fastoxidceller af høj temperatur-SOEC/SOFC-typen
von
DEVANCIARD, Nicolas
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SYSTEM FOR CONDITIONING A PLURALITY OF STACKED HIGH TEMPERATURE SOEC/SOFC-TYPE SOLID OXIDE CELL SUB-STACKS
von
DEVANCIARD, Nicolas
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SYSTEM FOR CONDITIONING A PLURALITY OF SUPERIMPOSED SUB-STACKS OF SOLID OXIDE CELLS OF THE HIGH-TEMPERATURE SOEC/SOFC TYPE
von
DEVANCIARD, NICOLAS
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5
Sistema de acondicionamiento de una pluralidad de subpilas de celdas de óxido sólido del tipo SOEC/SOFC a alta temperatura superpuestas
von
DEVANCIARD, Nicolas
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6
Système de conditionnement d'une pluralité de sous-empilements de cellules à oxydes solides de type SOEC/SOFC à haute température superposés
von
DEVANCIARD, Nicolas
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7
SYSTEM FOR ADJUSTMENT OF SUB-STACKS IN WHICH MULTIPLE HIGH-TEMPERATURE SOEC/SOFC TYPE SOLID OXIDE CELLS ARE OVERLAPPED
von
NICOLAS DEVANCIARD
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8
Système de conditionnement d'une pluralité de sous-empilements de cellules à oxydes solides de type SOEC/SOFC à haute température superposés
von
DEVANCIARD, Nicolas
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SYSTEM FOR CONDITIONING A PLURALITY OF STACKED HIGH TEMPERATURE SOEC/SOFC-TYPE SOLID OXIDE CELL SUB-STACKS
von
DEVANCIARD, Nicolas
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ELECTRIC CHARACTERISATION OF A MATRIX ADDRESSING CIRCUIT
von
SUHM, Aurélien
,
LE RHUN, Gwenaël
,
DEVANCIARD, Nicolas
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11
CARACTÉRISATION ÉLECTRIQUE DE CIRCUIT D'ADRESSAGE MATRICIEL
von
SUHM, Aurélien
,
LE RHUN, Gwenaël
,
DEVANCIARD, Nicolas
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Patent
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12
CARACTÉRISATION ÉLECTRIQUE DE CIRCUIT D'ADRESSAGE MATRICIEL
von
SUHM, Aurélien
,
LE RHUN, Gwenaël
,
DEVANCIARD, Nicolas
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13
ELECTRICAL CHARACTERISATION OF A MATRIX-ADDRESSABLE CIRCUIT
von
SUHM, Aurélien
,
LE RHUN, Gwenaël
,
DEVANCIARD, Nicolas
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14
Smart in-line defectivity/metrology process control solution for advanced 3D integration
von
Sidhoum, Amina
,
Devanciard, Nicolas
,
Bana, Franck
,
Garnier, Arnaud
,
Bresson, Nicolas
,
Bos, Sandra
,
Rey, Stéphane
,
Beitia, Carlos
,
Alliata, Dario
,
Hart, Darcy
,
Thornell, John
,
Miller, Justin
,
Vera, Gilles
,
Balak, Scott
Veröffentlicht in
International Symposium on Microelectronics
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Artikel
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15
Improving mean time to develop micro-bump/pillar fabrication process for vertical interconnections by combined defectivity and metrology approach
von
Devanciard, Nicolas
,
Bana, Franck
,
Bresson, Nicolas
,
Rey, Stéphane
,
Beitia, Carlos
,
Alliata, Dario
,
Hart, Darcy
,
Thornell, John
,
Miller, Justin
Veröffentlicht in
International Symposium on Microelectronics
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