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Covalent Grafting of Chitosan onto Stainless Steel through Aryldiazonium Self-Adhesive Layers
von
Le, Xuan Tuan
,
Doan, Ngoc Duc
,
Dequivre, Thomas
,
Viel, Pascal
,
Palacin, Serge
Veröffentlicht in
ACS applied materials & interfaces
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2
Correlation of local strain and temperature measurements in confocal Raman microscopy
von
Lubio, Aura D.
,
Dörfler, Andreas
,
Plathier, Julien
,
Dequivre, Thomas
,
Kolhatkar, Gitanjali
,
Charlebois, Serge A.
,
Ruediger, Andreas
Veröffentlicht in
Journal of Raman spectroscopy
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3
Review-The Mediating Effect of Chemically Oxidized Silicon Surface on the P4VP Electrografting for Silicon Electrical Insulation
von
Dequivre, Thomas
,
Charlebois, Serge A.
,
Brisard, Gessie M.
Veröffentlicht in
ECS journal of solid state science and technology
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Artikel
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4
Electrografted P4VP as Dielectric in High Aspect Ratio TSV: Surface Preparation and Thermomechanical Consideration
von
Dequivre, Thomas
,
Al Alam, Elias
,
Plathier, Julien
,
Ruediger, Andreas
,
Brisard, Gessie
,
Charlebois, Serge
Veröffentlicht in
ECS transactions
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Artikel
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5
Electrografted P4VP for High Aspect Ratio Copper TSV Insulation in Via-Last Process Flow
von
Dequivre, Thomas
,
Alam, Elias Al
,
Maurais, Josée
,
Brisard, Gessie M.
,
Pratte, J.-F.
,
Charlebois, Serge A.
Veröffentlicht in
ECS journal of solid state science and technology
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Artikel
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6
Processing Hundreds of Nanometres Thick Electrografted P4VP for High Aspect Ratio TSV Insulation
von
Dequivre, Thomas
,
Bérubé, Michael
,
Brisard, Gessie M
,
Charlebois, Serge A
Veröffentlicht in
Meeting abstracts (Electrochemical Society)
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Artikel
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7
Electrografted P4VP as Dielectric in High Aspect Ratio TSV: Surface Preparation and Thermomechanical Consideration
von
Dequivre, Thomas
,
Al Alam, Elias
,
Plathier, Julien
,
Ruediger, Andreas
,
Brisard, Gessie
,
Charlebois, Serge
Veröffentlicht in
Meeting abstracts (Electrochemical Society)
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Artikel
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8
Wet Metallization of High Aspect Ratio TSV Using Electrografted Polymer Insulator to Suppress Residual Stress in Silicon
von
Dequivre, Thomas
,
Kolhatkar, Gitanjali
,
Hadj Youssef, Azza
,
Le, Xuan T.
,
Brisard, Gessie M.
,
Ruediger, Andreas
,
Charlebois, Serge A.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on device and materials reliability
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Magazinearticle
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