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Work in progress -test engineering program
von
Papalias, T.A.
,
DeWilkins, W.
,
Harooni, S.
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Analog and mixed signal BIST: too much, too little, too late? [panel session]
von
DeWilkins, W.
,
Baril, B.
,
Osseiran, A.
,
Muradali, F.
,
Tabatabaei, S.
,
Posse, K.
,
Lee Song
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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