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(Invited) Apprehension of Large Coercive Field in Ferroelectric Hf-Zr-O Thin Films
Veröffentlicht in ECS transactions
VolltextArtikel -
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Advanced Millisecond Annealing Approaches for High-k Metal Gate and Contact Scaling
Veröffentlicht in ECS transactions
VolltextArtikel -
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Wafer Scale Graphene Field Effect Transistors on Thin Thermal Oxide
Veröffentlicht in ECS transactions
VolltextArtikel -
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