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Suchergebnisse - Dasarraju, Vamshi Krishna
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Investigation on Trench Edge Termination in SiC Based Power Device
von
Reena Rathi
,
Sharma, Ekta
,
Dasarraju, Vamshi Krishna
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Performance of Nichrome/p-Si Schottky Diode
von
Sharma, Ekta
,
Reena Rathi
,
Dasarraju, Vamshi Krishna
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Behaviour of SiC Schottky Diode Temperature Sensors in 200–600 K
von
Jaya
,
Sinhmar, Bhavya
,
Dasarraju, Vamshi Krishna
,
Dalal, Sudhir
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Enhancement of Breakdown Voltage Using Trench Edge Termination Technique in SiC-Based Power Device
von
Panchal, Ankit
,
Sharma, Ekta
,
Dasarraju, Vamshi Krishna
,
Suman
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5
Current Conduction in Nichrome/p-Si Schottky Diode
von
Sharma, Ekta
,
Panchal, Ankit
,
Rathi, Reena
,
Dasarraju, Vamshi Krishna
,
Suman
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