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    First Measurement of the Nuclear-Recoil Ionization Yield in Silicon at 100 eV von Albakry, M.  F., Alkhatib, I., Alonso, D., Amaral, D.  W. P., Aralis, T., Azadbakht, E., Banik, S., Bathurst, C., Bhattacharyya, R., Brink, P.  L., Bunker, R., Cabrera, B., Calkins, R., Cameron, R.  A., Cartaro, C., Cerdeño, D.  G., Chang, Y. -Y., Chaudhuri, M., Chott, N., Coombes, H., Corbett, J., Das, S., De Brienne, F., Rios, M., Dharani, S., di Vacri, M.  L., Diamond, M.  D., Figueroa-Feliciano, E., Fink, C.  W., Fouts, K., Fritts, M., Germond, R., Golwala, S.  R., Hines, B.  A., Hong, Z., Hoppe, E.  W., Huber, M.  E., Iyer, V., Kurinsky, N.  A., Litke, M., Liu, J., Loer, B., Lopez Asamar, E., Lukens, P., MacFarlane, D.  B., Meyer zu Theenhausen, H., Michaud, É., Michielin, E., Mirabolfathi, N., Mohanty, B., Nebolsky, B., Nelson, J., Neog, H., Novati, V., Osborne, M.  D., Oser, S.  M., Page, W.  A., Pandey, L., Pandey, S., Partridge, R., Perna, L., Podviianiuk, R., Ponce, F., Pradeep, A., Pyle, M., Reid, E., Ren, R., Tanner, E., Robinson, A.  E., Saab, T., Sadek, D., Sadoulet, B., Sahoo, S.  P., Schmidt, B., Scorza, S., Serfass, B., Sinervo, P., Speaks, Z., Street, J., Terry, G.  D., Thasrawala, F.  K., Verma, S., von Krosigk, B., Watkins, S.  L., Winchell, J., Wykoff, K., Yellin, S., Young, B.  A., Yu, T.  C., Zatschler, B., Zaytsev, A., Zeolla, A., Zhang, E., Zheng, Y., Zuniga, A., An, P., Barbeau, P.  S., Hedges, S.  C., Li, L., Runge, J.

    Veröffentlicht in Physical review letters

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