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Co-Optimization of Test Wrapper Length and TSV for TSV Based 3D SOCs
Veröffentlicht in Journal of electronic testing
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A new online testing technique for reversible circuits
Veröffentlicht in IET quantum communication
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Design‐for‐testability for reversible logic circuits based on bit‐swapping
Veröffentlicht in IET quantum communication
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Fault diagnosis in reversible circuits under missing-gate fault model
Veröffentlicht in Computers & electrical engineering
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A Genetic Algorithm-Based Metaheuristic Approach for Test Cost Optimization of 3D SIC
Veröffentlicht in IEEE access
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IRUVD: a new still-image based dataset for automatic vehicle detection
Veröffentlicht in Multimedia tools and applications
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A New Squarer design with reduced area and delay
Veröffentlicht in Chronic diseases and translational medicine
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Fast algorithms for test optimization of core based 3D SoC
Veröffentlicht in Integration (Amsterdam)
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