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    Design of CMOS logic gates with enhanced robustness against aging degradation

    Design of CMOS logic gates with enhanced robustness against aging degradation von Butzen, P.F., Dal Bem, V., Reis, A.I., Ribas, R.P.


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    BTI and HCI first-order aging estimation for early use in standard cell technology mapping

    BTI and HCI first-order aging estimation for early use in standard cell technology mapping von Butzen, P.F., Dal Bem, V., Reis, A.I., Ribas, R.P.


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    Impact and optimization of lithography-aware regular layout in digital circuit design

    Impact and optimization of lithography-aware regular layout in digital circuit design von Dal Bem, V., Butzen, P., Marranghello, F. S., Reis, A. I., Ribas, R. P.


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    Equivalent Circuit for NBTI Evaluation in CMOS Logic Gates

    Equivalent Circuit for NBTI Evaluation in CMOS Logic Gates von Schuch, Nivea, Dal Bem, Vinícius, Reis, André I., Ribas, Renato P.


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