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1
Shape memory alloy recording medium, storage devices based thereon, and method for using these storage devices
von
VETTIGER
,
PETER
,
DURIG
,
URS THEODOR
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Patent
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2
SENSOR PARA CONVERTIR UNA DISTANCIA A OPTICA Y ADEMAS A ENERGIA ELECTRICA, Y APARATO DE EXPLORACION DE SUPERFICIE QUE USA EL MISMO
von
DURIG, URS THEODOR
,
POHL, WOLFGANG DIETER
,
FISCHER, ULRICH CHRISTIAN
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Patent
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3
Sensor for converting a distance to optical and further to electrical energy, and surface scanning apparatus using same
von
DURIG, URS THEODOR
,
POHL, WOLFGANG DIETER
,
FISCHER, ULRICH CHRISTIAN
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Patent
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4
Atomic force sensor head for investigating the topography of a surface
von
DURIG, URS THEODOR
,
ROHRER, HEINRICH
,
BINNIG, GERD KARL, DR
,
GIMZEWSKI, JAMES KAZIMIERZ
,
POHL, WOLFGANG DIETER
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Patent
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5
Atomic force sensor head for measuring the properties of a data store
von
DUERIG, URS THEODOR
,
ROHRER, HEINRICH
,
BINNIG, GERD KARL, DR
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Patent
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6
Atomarer Kräftesensor zur Messung der Eigenschaften eines Datenträgers
von
ROHRER, HEINRICH., CH-8805 RICHTERSWIL, CH
,
BINNIG, GERD KARL, DR., W-8084 INNING, DE
,
DUERIG, URS THEODOR., CH-8803 RUESCHLIKON, CH
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7
Data detection for local probe data storage devices
von
ELEFTHERIOU EVANGELOS S
,
BACHTOLD PETER
,
BENNIG GERD K
,
DURIG URS T
,
LOELIGER THEODOR W
,
VETTIGER PETER
,
CHERUBINI GIOVANNI
,
DHOLAKIA AJAY
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Patent
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8
Data detection for local probe data storage devices
von
Bächtold, Peter
,
Binnig, Gerd K
,
Cherubini, Giovanni
,
Dholakia, Ajay
,
Dürig, Urs T
,
Eleftheriou, Evangelos S
,
Loeliger, Theodor W
,
Vettiger, Peter
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Patent
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Patents
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Schlagworte
Information Storage
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7
Information Storage Based On Relative Movement Between Recordcarrier And Transducer
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Physics
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7
Applications Of Scanning-Probe Techniques, E.g. Scanning Probemicroscopy [Spm]
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Measuring
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Measuring Angles
5 Treffer
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Measuring Areas
5 Treffer
5
Measuring Irregularities Of Surfaces Or Contours
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5
Measuring Length, Thickness Or Similar Lineardimensions
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Scanning-Probe Techniques Or Apparatus
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5
Testing
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5
Arrangements For Measuring Two Or More Variables Not Coveredin A Single Other Subclass
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Investigating Or Analysing Materials By Determining Theirchemical Or Physical Properties
3 Treffer
3
Measuring Electric Variables
3 Treffer
3
Measuring Force, Stress, Torque, Work, Mechanical Power,Mechanical Efficiency, Or Fluid Pressure
3 Treffer
3
Measuring Magnetic Variables
3 Treffer
3
Measuring Not Specially Adapted For A Specific Variable
3 Treffer
3
Measuring Or Testing Not Otherwise Provided For
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3
Tariff Metering Apparatus
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3
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Esp@Cenet
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Uspto Issued Patents
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