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Single Particle Characterization by Time-of-Flight Mass Spectrometry
Veröffentlicht in Aerosol science and technology
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Saturation of three-photon ionization of atomic hydrogen and deuterium at 243 nm
Veröffentlicht in Optics letters
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Sputtering effects in Si, SiO2 and the Si/SiO2 interface
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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Simple laser-driven, metal-photocathode electron source
Veröffentlicht in Applied physics letters
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