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The influence of the native BaAl2O4 boundary layer on microstructure and properties of YBa2Cu3O7-x thin films grown on sapphire
von
DOVINDENKO, K
,
OKTYABRSKY, S
,
TOKARCHUK, D
,
MICHALTSOV, A
,
IVANOV, A
Veröffentlicht in
Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology
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