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Distributed power supply architecture in automatic test equipment
von
DeLaPuente Edmundo
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DISTRIBUTED POWER SUPPLY ARCHITECTURE IN AUTOMATIC TEST EQUIPMENT
von
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Seamless fail analysis with memory efficient storage of fail lists
von
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,
DELAPUENTE EDMUNDO
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SEAMLESS FAIL ANALYSIS WITH MEMORY EFFICIENT STORAGE OF FAIL LISTS
von
LAI HANH
,
DELAPUENTE EDMUNDO
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5
Staged buffer caching in a system for testing a device under test
von
KRECH, JR. ALAN S
,
JONES MICHAEL
,
DELAPUENTE EDMUNDO
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6
STAGED BUFFER CACHING IN A SYSTEM FOR TESTING A DEVICE UNDER TEST
von
KRECH, JR. ALAN S
,
JONES MICHAEL
,
DELAPUENTE EDMUNDO
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7
Flexible test site synchronization
von
KRECH, JR. ALAN S
,
JONES MICHAEL
,
DELAPUENTE EDMUNDO
,
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,
YASUI TAKAHIRO
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FLEXIBLE TEST SITE SYNCHRONIZATION
von
KRECH, JR. ALAN S
,
JONES MICHAEL
,
DELAPUENTE EDMUNDO
,
FUKUDA TAICHI
,
YASUI TAKAHIRO
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9
FLEXIBLE TEST SITE SYNCHRONIZATION
von
KRECH ALAN S. JR
,
JONES MICHAEL
,
DELAPUENTE EDMUNDO
,
FUKUDA TAICHI
,
YASUI TAKAHIRO
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