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A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
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Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
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Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress
Veröffentlicht in Electronics letters
VolltextArtikel -
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