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Localized Damage in AlGaN/GaN HEMTs Induced by Reverse-Bias Testing
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Characterization and analysis of trap-related effects in AlGaN–GaN HEMTs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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L'EMPIRE DU JAPON ET LE CHOC DE LA PREMIÈRE GUERRE MONDIALE
Veröffentlicht in Guerres mondiales et conflits contemporains
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