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Trapping Effects at the Drain Edge in 600 V GaN-on-Si HEMTs
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Advances in GaN Devices and Circuits at Higher mm-Wave Frequencies
Veröffentlicht in e-Prime
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GaN HEMTs and MMICs for space applications
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Neurological complications after cadaveric and living donor liver transplantation
Veröffentlicht in Journal of neurology
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Qualification of 50 V GaN on SiC technology for RF power amplifiers
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Critical factors influencing the voltage robustness of AlGaN/GaN HEMTs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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ECOSAR model performance with a large test set of industrial chemicals
Veröffentlicht in Chemosphere (Oxford)
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