Suchergebnisse - DAAN BENJAMIN BOLTJE | OPAC THWS

1

Method for localizing a region of interest in a sample and micromachining the sample using a charged particle beam von DAAN BENJAMIN BOLTJE, ERNEST BENJAMIN VAN DER WEE, JACOB PIETER HOOGENBOOM

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
2

METHOD FOR LOCALIZING A REGION OF INTEREST IN A SAMPLE AND MICROMACHINING THE SAMPLE USING A CHARGED PARTICLE BEAM von VAN DER WEE, Ernest Benjamin, BOLTJE, Daan Benjamin, HOOGENBOOM, Jacob Pieter

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
3

Method and apparatus for in-situ sample quality inspection in cryogenic focused ion beam milling von RADIM SKOUPÝ, DAAN BENJAMIN BOLTJE, JACOB PIETER HOOGENBOOM, ARJEN-JOACHIM JAKOBI

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
4

METHOD AND APPARATUS FOR IN-SITU SAMPLE QUALITY INSPECTION IN CRYOGENIC FOCUSED ION BEAM MILLING von SKOUPÝ, Radim, JAKOBI, Arjen-Joachim, BOLTJE, Daan Benjamin, HOOGENBOOM, Jacob Pieter

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
5

METHOD AND APPARATUS FOR MICROMACHINING A SAMPLE USING A FOCUSED ION BEAM von SMEETS, Marit Rosa, JONKER, Caspar Theodorus Hugo, ZIELINSKI, Marcin Stefan, BOLTJE, Daan Benjamin, LAST, Mart Guus Ferdinand

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
6

METHOD AND APPARATUS FOR MICROMACHINING A SAMPLE USING A FOCUSED ION BEAM von SMEETS, Marit Rosa, JONKER, Caspar Theodorus Hugo, ZIELINSKI, Marcin Stefan, BOLTJE, Daan Benjamin, LAST, Mart Guus Ferdinand

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
7

METHOD AND APPARATUS FOR MICROMACHINING A SAMPLE USING A FOCUSED ION BEAM von SMEETS, Marit Rosa, JONKER, Caspar Theodorus Hugo, ZIELINSKI, Marcin Stefan, BOLTJE, Daan Benjamin, LAST, Mart Guus Ferdinand

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
8

Method and apparatus for micromachining a sample using a Focused Ion Beam von MART GUUS FERDINAND LAST, DAAN BENJAMIN BOLTJE, MARIT ROSA SMEETS, CASPAR THEODORUS HUGO JONKER, MARCIN STEFAN ZIELINKSI

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in: