Suchergebnisse - Crocco, Jerome David | OPAC THWS

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Manufacturing quality improvement through statistical root cause analysis using convolution neural networks von Crocco, Jerome David, O'Hern, Jr., Paul R

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Architecture for and Method of Operating a Metal Oxide Based Sensor von Crocco, Jerome David, Tandon, Sanjeev, Cho, Jinhui

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Method and functional architecture for inline repair of defective imaging arrays von Forsyth, Michael Keith, Crocco, Jerome David, Cadena, Kevin

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Method and Functional Architecture for Inline Repair of Defective Imaging Arrays von Forsyth, Michael Keith, Crocco, Jerome David, Cadena, Kevin

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Manufacturing Quality Improvement Through Statistical Root Cause Analysis Using Convolution Neural Networks von O'Hern, JR., Paul R, Crocco, Jerome David

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Method and functional architecture for inline repair of defective lithographically masked layers von Johnson Michael Robert, Crocco Jerome David, Han Geun Jo

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