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Oxygen depth profiling by resonant backscattering and glow discharge optical emission spectroscopy of Ti-6Al-4V alloy oxidized by ion implantation and plasma based treatment
Veröffentlicht in Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms
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Light induced changes in the defect structure of a-Si:H
Veröffentlicht in Thin solid films
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On the nucleation of PdSi and NiSi2 during the ternary Ni(Pd)/Si(100) reaction
Veröffentlicht in Journal of Applied Physics
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On the growth kinetics of Ni(Pt) silicide thin films
Veröffentlicht in Journal of Applied Physics
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Effect of high temperature deposition on CoSi2 phase formation
Veröffentlicht in Journal of Applied Physics
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Study of iridium/germanium interaction in a lateral diffusion couple
Veröffentlicht in Thin solid films
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