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X-ray measurement of elastic strain and lattice constant of diffused silicon
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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X-ray measurement of elastic strain and annealing in semiconductors
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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Ion pairing in double diffused silicon devices
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Impurity interaction and damage in double diffused layers on silicon
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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The Employment of Immigrants: A Case Study within the Wool Industry
Veröffentlicht in Race
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GaAs junction diodes as cryogenic thermometers
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Relaxation of Crystals with the Quasi-Newton Method
Veröffentlicht in Journal of computational physics
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