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Mid-frequency PECVD of a-SiCN:H films and their structural, mechanical and electrical properties
Veröffentlicht in Vacuum
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Cylindrical Indentation to Selectively Stress Nanoscale CMOS Transistors
Veröffentlicht in IEEE transactions on device and materials reliability
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Stress-Induced Transistor Degradation Studied by an Indentation Approach
Veröffentlicht in IEEE transactions on device and materials reliability
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Operationsindikation bei Schilddrüsenerkrankungen im Kindesalter
Veröffentlicht in Monatsschrift Kinderheilkunde
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