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Fault-Aware Dependability Enhancement Techniques for Phase Change Memory
Veröffentlicht in Journal of electronic testing
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Testing of in-memory-computing memories with 8 T SRAMs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
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Built-in self-test for phase-locked loops
Veröffentlicht in IEEE transactions on instrumentation and measurement
VolltextArtikel -
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Built-In Self-Test Design for the 3D-Stacked Wide-I/O DRAM
Veröffentlicht in Journal of electronic testing
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