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    Electron beam induced current imaging of near-contact regions in semi-insulating GaAs

    Electron beam induced current imaging of near-contact regions in semi-insulating GaAs von Brennan, C.R., Chriss, M.F., Taylor, C., Haegel, N.M., White, A.M.


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    GaN PIN Photodiodes Grown on Sapphire and SiC Substrates von Boutros, K.S., Chriss, M.F., Tamweber, F.D., Smith, G.M., Keogh, D.M., Flynn, J.S.

    Veröffentlicht in Materials science forum

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    Visible-blind GaN PIN photodiodes

    Visible-blind GaN PIN photodiodes von Smith, G.M., Boutros, K.S., Phanse, V.M., Chriss, M.F., Tamweber, F.D.

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