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An On-Chip Error Detection Method to Reduce the Post-Silicon Debug Time
Veröffentlicht in IEEE transactions on computers
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Test Resource Reused Debug Scheme to Reduce the Post-Silicon Debug Cost
Veröffentlicht in IEEE transactions on computers
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A Flexible Programmable Memory BIST for Embedded Single-Port Memory and Dual-Port Memory
Veröffentlicht in ETRI journal
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