Treffer
1 - 1
von
1
für Suche '
Choi, Byoundeog
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - Choi, Byoundeog
Treffer
1 - 1
von
1
für Suche '
Choi, Byoundeog
'
, Suchdauer: 0,25s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Drain leakage and hot carrier reliability characteristics of asymmetric source-drain MOSFET
von
Kim, Kwangsoo
,
Choi, Byoungseon
,
Baek, Dohyun
,
Kim, Hyungwook
,
Choi, Byoundeog
Veröffentlicht in
Journal of the Korean Physical Society
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Peer Reviewed
1 Treffer
1
Online Resources
1 Treffer
1
Format
Articles
1 Treffer
1
Zeitschriftentitel
Journal Of The Korean Physical Society
1 Treffer
1
Schlagworte
Asymmetric Source-Drain Mosfet
1 Treffer
1
Band-To-Band Tunneling
1 Treffer
1
Drain Engineering
1 Treffer
1
Gate-Induced Drain Leakage
1 Treffer
1
Mathematical And Computational Physics
1 Treffer
1
Particle And Nuclear Physics
1 Treffer
1
Physical Sciences
1 Treffer
1
Physics
1 Treffer
1
Physics And Astronomy
1 Treffer
1
Physics, Multidisciplinary
1 Treffer
1
Science & Technology
1 Treffer
1
Theoretical
1 Treffer
1
물리학
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Ezb-Free-00999 Freely Available Ezb Journals
1 Treffer
1
Springernature Journals
1 Treffer
1