-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
-
9
-
10
-
11
-
12
Statistical Retardation Delay of I-MOS and Its Measurement Using TDR
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
13
-
14
Hierarchical Mixture-of-Experts approach for neural compact modeling of MOSFETs
Veröffentlicht in Solid-state electronics
VolltextArtikel -
15
-
16
A survey on knowledge transfer for manufacturing data analytics
Veröffentlicht in Computers in industry
VolltextArtikel -
17
-
18
A novel methodology for neural compact modeling based on knowledge transfer
Veröffentlicht in Solid-state electronics
VolltextArtikel -
19
A reference activity model for smart factory design and improvement
Veröffentlicht in Production planning & control
VolltextArtikel -
20