Suchergebnisse - Chitrashekaraiah, S. | OPAC THWS

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Addressable test structures for MOSFET variability analysis von Chitrashekaraiah, S., Guo, S., Herberholz, R., Vigar, D., Redford, M.

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An automated small-signal parameter extraction technique for HBTs using ICCAP von Chitrashekaraiah, S., Dharmasiri, C.N., Rezazadeh, A.A.

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Linear Temperature Dependent Small Signal Model for InGaP/GaAs DHBTs Using IC-CAP von Chitrashekaraiah, S., Van Tuyen Vo, Rezazadeh, A.A.

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Interpreting InGaP/GaAs DHBT Eye diagrams using small signal parameters von Venkatesha, D.B., Chitrashekaraiah, S., Rezazadeh, A.A., Thiede, A.

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Interpreting InGaP/GaAs DHBT eye diagrams using small signal parameters von Venkatesha, D.B., Chitrashekaraiah, S., Rezazadeh, A.A., Thiede, A.

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Switching characteristics analysis of GaAs HBTs using eye diagram von Venkatesha, D.B., Chitrashekaraiah, S., Rezazadeh, A.A.

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