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Micro-imaging system using scanning DC-SQUID microscope
Veröffentlicht in IEEE transactions on applied superconductivity
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Portable SQUID NDE system for practical application
Veröffentlicht in IEEE transactions on applied superconductivity
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Traveling DC-SQUID gradiometry for nondestructive evaluation
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High‐speed scanning by dual feedback control in SNOM/AFM
Veröffentlicht in Journal of microscopy (Oxford)
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Easy process for fabrication of high-reliability DC-SQUIDs
Veröffentlicht in IEEE transactions on magnetics
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Transition edge X-ray sensors for industrial applications
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