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A Novel Density of States (DOS) for Disordered Organic Semiconductors
Veröffentlicht in Micromachines (Basel)
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Charge Loss Induced by Defects of Transition Layer in Charge-Trap 3D NAND Flash Memory
Veröffentlicht in IEEE access
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Defects coupling impacts on mono-layer WSe2 tunneling field-effect transistors
Veröffentlicht in Applied physics express
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Thin film ferroelectric photonic-electronic memory
Veröffentlicht in Light, science & applications
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