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Single-Event Effect Performance of a Commercial Embedded ReRAM
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
VolltextArtikel -
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Single-Event Effect Performance of a Conductive-Bridge Memory EEPROM
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Enhanced Low Dose Rate Sensitivity at Ultra-Low Dose Rates
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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