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Suchergebnisse - Chen, Argon C. K.
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Recent research and current issues in accelerated testing
von
Elsayed, E.A.
,
Chen, A.C.-K.
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2
A PRODUCIBILITY MEASURE FOR QUALITY CHARACTERISTICS WITH DESIGN SPECIFICATIONS
von
Byun, Jai-Hyun
,
Elsayed, Elsayed A.
,
Chen, Argon C. K.
,
Bruins, Rieks
Veröffentlicht in
Quality engineering
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Artikel
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Data mining and fault diagnosis based on wafer acceptance test data and in-line manufacturing data
von
Chih-Min Fan
,
Ruey-Shan Guo
,
Chen, A.
,
Kuo-Ching Hsu
,
Chih-Shih Wei
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Bis:
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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2
Ieee Power & Energy Library
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2
Ieee Electronic Library (Iel)
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2
Taylor & Francis:master (3349 Titles)
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Ebscohost Business Source Complete
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Ingentaconnect Journals
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Ingentaconnect
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1