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    Utilizing Low-Dose Transmission Electron Microscopy for Structure and Defect Identification in Group III – Nitride Electronic Devices

    Utilizing Low-Dose Transmission Electron Microscopy for Structure and Defect Identification in Group III – Nitride Electronic Devices von Specht, Petra, Luysberg, Martina, Chavez1, J, Weatherford, T.R, Anderson, T.J, Koehler, A.D, Kisielowski, C

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