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Influence of gate-source/drain overlap on FeFETs
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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Market Liquidity and Momentum Profits : Evidence from the Korean Stock Market
Veröffentlicht in Seonmul yeongu (Online)
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Damage-Induced Ferroelectricity in HfO x -Based Thin Film
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Damage-Induced Ferroelectricity in HfOx-Based Thin Film
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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