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Design-Time Reliability Enhancement Using Hotspot Identification for RF Circuits
von
Doohwang Chang
,
Kitchen, Jennifer N.
,
Bakkaloglu, Bertan
,
Kiaei, Sayfe
,
Ozev, Sule
Veröffentlicht in
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
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In-Field Recovery of RF Circuits from Wearout Based Performance Degradation
von
Chang, Doohwang
,
Kitchen, Jennifer N.
,
Kiaei, Sayfe
,
Ozev, Sule
Veröffentlicht in
IEEE transactions on emerging topics in computing
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3
Detection Mechanisms for Unauthorized Wireless Transmissions
von
Chang, Doohwang
,
Bhat, Ganapati
,
Ogras, Umit
,
Bakkaloglu, Bertan
,
Ozev, Sule
Veröffentlicht in
ACM transactions on design automation of electronic systems
Volltext
Artikel
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4
Analysis and Mitigation of Electromigration in RF Circuits: An LNA Case Study
von
Venkatasubramanian, R.
,
Doohwang Chang
,
Ozev, S.
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Tagungsbericht
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5
Monitor-Based In-Field Wearout Mitigation for CMOS LC Oscillators
von
Doohwang Chang
,
Kitchen, Jennifer N.
,
Bakkaloglu, Bertan
,
Kiaei, Sayfe
,
Ozev, Sule
Veröffentlicht in
IEEE transactions on device and materials reliability
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Ieee Electronic Library (Iel)
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Ingenta Connect
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Acm Digital Library Complete
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Ieee Open Access Journals
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Ezb-Free-00999 Freely Available Ezb Journals
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