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Hot-carrier degradation mechanism in narrow- and wide-channel n-MOSFETs with recessed LOCOS isolation structure
von
Yue, Jeffrey Mun Pun
,
Chim, Wai Kin
,
Cho, Byung Jin
,
Chan, Daniel Sin Hung
,
Qin, Wei Han
,
Kim, Young-Bog
,
Jang, Se-Aug
,
Yeo, In-Seok
Veröffentlicht in
IEEE electron device letters
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Polymer memories: Bistable electrical switching and device performance
von
Ling, Qi-Dan
,
Liaw, Der-Jang
,
Teo, Eric Yeow-Hwee
,
Zhu, Chunxiang
,
Chan, Daniel Siu-Hung
,
Kang, En-Tang
,
Neoh, Koon-Gee
Veröffentlicht in
Polymer (Guilford)
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Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
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