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Laboratory investigation of interface shearing in chalk
von
Chan, DLH
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Buckley, RM
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Liu, T
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Jardine, RJ
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In-plane and out-of-plane dielectric constant measurement techniques for sub-micron MOS devices
von
Chua Chee Tee
,
Sarkar, G.
,
Meng, S.C.Y.
,
Yu, D.L.H.
,
Lap Chan
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