Suchergebnisse - Chae, Kyosuk | OPAC THWS

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Improved evaluation of DRAM transistors and accurate resistance measurement for real chip contacts by nano-probing technique von Hyunho Park, Kyosuk Chae, Yamada, Satoru, Hyung-Suk Kuh, Byoungdeok Choi

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2

Electrical Failure Analysis Methodology for DRAM of 80nm era and beyond using Nanoprober Technique von Hyunho Park, Sang-Yeon Han, Won-Seok Lee, Chang-Hoon Jeon, Siok Sohn, Kyosuk Chae, Yamada, S., Wouns Yang, Donggun Park

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3

SEMICONDUCTOR DEVICE von RIM, Taiuk, LEE, Jinseong, CHAE, Kyosuk

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4

SEMICONDUCTOR DEVICE von RIM, Taiuk, LEE, Jinseong, CHAE, Kyosuk

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5

SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING CONTACT PLUGS von Kwon, Jihye, Chae, Kyosuk, Kim, Jihun, Lee, Jinseong

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6

SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING PERIPHERAL CONTACT von WOO, Dongsoo, LEE, Jinseong, CHAE, Kyosuk, KIM, Kyounghee

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7

Semiconductor devices including a buried gate electrode von Chae, Kyosuk, Kim, Hyewon, Yoon, Sungmi, Lee, Sangwoon, We, Juhyung, Im, Donghyun, Rim, Taiuk

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8

SEMICONDUCTOR DEVICES von IM, Donghyun, LEE, Sangwoon, KIM, Hyewon, RIM, Taiuk, CHAE, Kyosuk, WE, Juhyung, YOON, Sungmi

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