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    A critical analysis of a reliability study of ball grid array electronic components submitted to thermal aging and board-level drop test

    A critical analysis of a reliability study of ball grid array electronic components submitted to thermal aging and board-level drop test von Monlevade, Eduardo Franco de, Cardoso, Idélcio Alexandre Palheta, Souza, Gilberto Francisco Martha de

    Veröffentlicht in Engineering failure analysis

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