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Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator
von
Penacchio, Rafaela F.S.
,
Fornari, Celso I.
,
Camillo, Yorí G.
,
Kagerer, Philipp
,
Buchberger, Sebastian
,
Kamp, Martin
,
Bentmann, Hendrik
,
Reinert, Friedrich
,
Morelhão, Sérgio L.
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Thin solid films
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Simulation of X-ray diffraction in Mn$_x$Bi$_2$Te$_{3+x}$ epitaxic films
von
Penacchio, Rafaela F. S
,
Fornari, Celso I
,
Camillo, Yori G
,
Kagerer, Philipp
,
Buchberger, Sebastian
,
Kamp, Martin
,
Bentmann, Hendrik
,
Reinert, Friedrich
,
Morelhao, Sergio L
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X-ray diffraction tools for structural modeling of epitaxic films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator
von
Penacchio, Rafaela F. S
,
Fornari, Celso I
,
Camillo, Yori G
,
Kagerer, Philipp
,
Buchberger, Sebastian
,
Kamp, Martin
,
Bentmann, Hendrik
,
Reinert, Friedrich
,
Morelhao, Sergio L
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Simulation of X-ray diffraction in Mn\(_x\)Bi\(_2\)Te\(_{3+x}\) epitaxic films
von
Penacchio, Rafaela F S
,
nari, Celso I
,
Camillo, Yori G
,
Kagerer, Philipp
,
Buchberger, Sebastian
,
Kamp, Martin
,
Bentmann, Hendrik
,
Reinert, Friedrich
,
Morelhao, Sergio L
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X-ray diffraction tools for structural modeling of epitaxic films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator
von
Penacchio, Rafaela F S
,
nari, Celso I
,
Camillo, Yori G
,
Kagerer, Philipp
,
Buchberger, Sebastian
,
Kamp, Martin
,
Bentmann, Hendrik
,
Reinert, Friedrich
,
Morelhao, Sergio L
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