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    Measuring the specific contact resistance of contacts to semiconductor nanowires

    Measuring the specific contact resistance of contacts to semiconductor nanowires von Mohney, S.E., Wang, Y., Cabassi, M.A., Lew, K.K., Dey, S., Redwing, J.M., Mayer, T.S.

    Veröffentlicht in Solid-state electronics

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