Suchergebnisse - COANE, PHILIP JAMES | OPAC THWS

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ELECTRON BEAM APPARATUS von HOHN, FRITZ-JURGEN, CHANG, TAI-HON PHILIP, COANE, PHILIP JAMES, KERN, DIETER PAUL

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Electron beam apparatus von HOHN, FRITZ-JURGEN, CHANG, TAI-HON PHILIP, COANE, PHILIP JAMES, KERN, DIETER PAUL

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4

INSPECTION OF UNSINTERED SINGLE LAYER OR MULTILAYER CERAMICS USING A BROAD AREA ELECTRICAL CONTACTING STRUCTURE von MOLZEN, WALTER WILLIAM, JR, HOHN, FRITZ-JURGEN, CHANG, TAI-HON PHILIP, COANE, PHILIP JAMES, ZINGHER, ARTHUR RICHARD

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5

Inspection of unsintered single layer or multilayer ceramics using a broad area electrical contacting structure von MOLZEN, WALTER WILLIAM, JR, HOHN, FRITZ-JURGEN, CHANG, TAI-HON PHILIP, COANE, PHILIP JAMES, ZINGHER, ARTHUR RICHARD

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A scaled 0.25- mu m bipolar technology using full e-beam lithography von Cressler, J.D., Warnock, J., Coane, P.J., Chiong, K.N., Rothwell, M.E., Jenkins, K.A., Burghartz, J.N., Petrillo, E.J., Mazzeo, N.J., Megdanis, A.C., Hohn, F.J., Thomson, M.G., Sun, J.Y.-C., Tang, D.D.

Veröffentlicht in IEEE electron device letters

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