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Modeling to predict the time evolution of negative bias temperature instability(NBTI) induced single event transient pulse broadening
von
CHEN ShuMing CHEN JianJun CHI YaQing LIU FanYu HE YiBai
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中国科学:技术科学英文版
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Modeling to predict the time evolution of negative bias temperature instability (NBTI) induced single event transient pulse broadening
von
Chen, ShuMing
,
Chen, JianJun
,
Chi, YaQing
,
Liu, FanYu
,
He, YiBai
Veröffentlicht in
Science China. Technological sciences
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