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Studies on highly luminescent AgInS2 and Ag–Zn–In–S quantum dots
Veröffentlicht in Journal of alloys and compounds
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An accurate MOSFET aging model for 28 nm integrated circuit simulation
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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An accurate MOSFET aging model for 28nm integrated circuit simulation
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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