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Electrical overstress and electrostatic discharge
von
Diaz, C.
,
Kang, S.M.
,
Duvvury, C.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on reliability
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An analytical method for determining intrinsic drainsource resistance of lightly doped drain (LDD) devices
von
CHARVAKA DUVUURY
,
BAGLEE, D
,
DUANE, M
,
HYSLOP, A
,
SMAYLING, M
,
MAEKAWA, M
Veröffentlicht in
Solid-state electronics
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