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A NOVEL P-CHANNEL FLASH MEMORY DEVICE
von
CHANGLIAO, KUEISHU
,
WANG, CHICHAO
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Effect of Starting Oxide on Electrical Characteristics of Metal-Reoxidized Nitrided Oxide-Semiconductor Devices Prepared by Rapid Thermal Processes
von
KUEI-SHU
,
CHANG-LIAO
,
JENN-GWO HWU
Veröffentlicht in
Japanese Journal of Applied Physics
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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