Treffer
1 - 3
von
3
für Suche '
CHAMRITH SEREIVATANA
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - CHAMRITH SEREIVATANA
Treffer
1 - 3
von
3
für Suche '
CHAMRITH SEREIVATANA
'
, Suchdauer: 0,56s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
APPARATUS FOR EVALUATING CONSISTENCY ABOUT LOCATION OF CONSTRUCTION CRACKS AND METHOD THEREOF
von
KIM JUNG YEOL
,
JUNG WOOK
,
PARK JUN BEOM
,
CHAMRITH SEREIVATANA
,
BAE SEOUNG JAE
,
KIM CHAN JIN
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
APPARATUS FOR EVALUATING POSITION AND SHAPE ACCURACY TO INSPECT SURFACE DAMAGE AND METHOD THEREOF
von
KIM JUNG YEOL
,
JUNG WOOK
,
PARK JUN BEOM
,
CHAMRITH SEREIVATANA
,
BAE SEOUNG JAE
,
KIM CHAN JIN
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
3
Status grade determining apparatus for pipe support reuse and method thereof
von
EUN HYUNG JIN
,
JANG JIYOUNG
,
KIM JUNG YEOL
,
JUNG WOOK
,
LEE GILYONG
,
CHAMRITH SEREIVATANA
,
KIM YOUNG SUK
,
KIM JUNSANG
,
KIM CHAN JIN
,
PARK JUN BEOM
,
LEE JIYEON
,
BAE SEOUNG JAE
,
KIM HAYOON
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Online Resources
3 Treffer
3
Format
Patents
3 Treffer
3
Schlagworte
Calculating
3 Treffer
3
Computing
3 Treffer
3
Counting
3 Treffer
3
Physics
3 Treffer
3
Image Data Processing Or Generation, In General
2 Treffer
2
Investigating Or Analysing Materials By Determining Theirchemical Or Physical Properties
2 Treffer
2
Measuring
2 Treffer
2
Measuring Angles
2 Treffer
2
Measuring Areas
2 Treffer
2
Measuring Irregularities Of Surfaces Or Contours
2 Treffer
2
Measuring Length, Thickness Or Similar Lineardimensions
2 Treffer
2
Testing
2 Treffer
2
Computer Systems Based On Specific Computational Models
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Esp@Cenet
3 Treffer
3