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The interfacial layer formation of the Al2O3/Si structures grown by low-pressure metalorganic chemical vapor deposition
von
KIM, T. W
,
KANG, W. N
,
YOON, Y. S
,
YOM, S. S
,
LEE, J. Y
,
CHAEYON KIM
,
LIM, H
,
PARK, H. L
Veröffentlicht in
Journal of applied physics
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