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Deposition temperature determination of HDPCVD silicon dioxide films
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Low temperature drive-in of surface-deposited copper in silicon wafers
Veröffentlicht in EPJ. Applied physics (Print)
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Interface properties of annealed and nitrided HTO layers
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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XPS and SIMS depth profiling of chlorine in high-temperature oxynitrides
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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ARIANNA: the Icarus experiment readout module
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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The liquid argon TPC for the ICARUS experiment
Veröffentlicht in Nuclear physics. Section B, Proceedings supplement
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XPS and SIMS depth profiling of chlorine in high-temperature oxynitrides
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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