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Toward atom probe tomography of microelectronic devices
Veröffentlicht in Journal of physics. Conference series
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Characterization of ultralow-energy implants and towards the analysis of three-dimensional dopant distributions using three-dimensional atom-probe tomography
Veröffentlicht in Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena
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Reconstruction Metrics in Atom Probe Tomography
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Improving Data Quality in Atom Probe Tomography
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Laser-Specimen Interactions in Atom Probe Tomography
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Improved Mass Resolving Power and Yield in Atom Probe Tomography
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Characterization of ultralow-energy implants and towards the analysisof three-dimensional dopant distributions using three-dimensionalatom-probe tomography
Veröffentlicht in Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena
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The dispersion–brightness relation for fast radio bursts from a wide-field survey
Veröffentlicht in Nature (London)
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Genomically humanized mice: technologies and promises
Veröffentlicht in Nature reviews. Genetics
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The Murchison Widefield Array: Design Overview
Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE
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